HORIBA ATS参加 2007中国汽车测试及质量监控博览会

　　Automotive Testing Expo 2007 China

地址：上海光大会展中心 （中国上海漕宝路70号C栋6）

        日期：9月12-14日

        展位：西馆3楼1040号

        HORIBA于2007年9月12日-14日在上海光大会展中心参加的“2007汽车测试及质量监控博览会”已圆满落下帷幕。这次的展会不仅为 HORIBA提供了一个展示公司自我创新和发展的舞台，同时也向广大的中国消费者开启了一扇了解全球尖端汽车分析和测量技术的窗口。在为期三天的参展时间里，有上千人莅临了我们的展位，并与我方相关人员就最新的产品和技术进行了交流。HORIBA也有信心正在日渐成熟的市场环境里不断进步，再创佳绩！
（所有照片摄于展会现场）