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HORIBA参展第十二届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2007)

Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis

信息发布:日本堀场株式会社 发布时间:2008-10-6 浏览次数:

 第十二届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2007)
Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis

 

  10月18日-21日HORIBA集团旗下的堀场制作所/法国JOBIN YVON/日本STEC共同参加了由中国分析测试学会主办的中国最具影响力的分析仪器展览会——十二届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2007).

        HORIBA集团总裁兼日本分析仪器工业会(JAIMA)会长堀场厚先生(Mr.Atsushi Horiba)一行也专程访问了此次盛会,并且与中国分析测试学会的有关领导进行了友好会谈。这也是HORIBA集团总裁堀场厚担任日本分析仪器工业会会 长以来的首次访华。

        今年以来HORIBA集团加强了与中国分析测试学会的交流与合作。目前其旗下中国子公司 ---堀场贸易(上海)有限公司已成功加入中国分析测试学会,成为该协会目前为止为数不多的国外厂家会员。通过这次日本分析仪器工业会的中国访问,极大的 提高了HORIBA集团在中国的声望和影响力,同时极大的加强了中国用户对HORIBA集团产品的了解与信赖。

 

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堀场厚会长在BCEIA招待会上发表讲话

 

堀场厚会长(左二)参观BCEIA展会

 

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堀场厚会长(右)与中国分析测试学会领导亲切会面

 

堀场厚会长(右)与中国分析测试学会领导亲切会谈

 
   

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展会现场

 

展会现场

 

 

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