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新型非离子型聚合物对胶体SiO2垢抑制作用的研究

文件大小:0.34MB格式:pdf发布时间:2013-08-14浏览次数:
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【中文关键词】硅垢  有机膦阻垢剂  非离子型聚合物  
【摘要】工业水处理中,原水中硅含量过高会导致胶体SiO2垢的形成,硅垢一旦形成便难以去除,给工业生产带来许多隐患。TJ-SIOII是一种优良的硅垢阻垢剂,而传统有机膦药剂对胶体SiO2垢沉积基本无抑制作用。
【部分正文预览】

 

硅是地球上含量最丰富的元素之一,也是水环境 中最常见 的胶体物质[,在 水中硅 的溶解度通 常在 150~180mg·L 之间。高硅含量的原水在运行过程 中常常形成硅垢沉积于设备表面 ,导致设备传热效率降低及系统管路堵塞。硅垢一旦形成便很难去除,常采用具有强腐蚀性 的 NH4F·HF清洗形成的硅垢,如操作不当会造成危险。

对 于硅垢阻垢剂 ,前人进行了一定的研 究,研究的硅垢阻垢剂多为阴离子型聚合物 ,如氧化 淀粉、含氮官能团聚合物 [6-9]及含磷聚合物 。然而 国内此方面 的研究 尚少。同济大学环境科学与工程 学院在原有研究基础上,开发 出一种新型非离子聚合物 TJ—SIOII,含醚键 、肽键 和仲胺基等基 团,研究表明该聚合物对硅垢沉积具有 良好的抑制作用。

 

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